X荧光镀层测厚仪膜厚仪用于检测汽车金属镀层厚度

镀层厚度是镀层检测的重要指标之一,准确测量镀层的厚度对保证镀层性能和节能节材有重要的意义.

X 射线应用非常广泛。 除穿透检测外，X射线荧光（XRF）的特性还可用于元素分析和涂层厚度分析。 厚度计算主要是根据基材和涂层材料之间的信号强度关系。

薄膜厚度分析的方法很多，如X射线测厚、涡流、超声波等。 这三个原则不同，使用的限度和可测量的范围也不同。

X射线荧光涂层厚度分析，除生产外，如五金行业； 电子行业也经常使用XRF方法进行涂层厚度分析，如PCB或MLCC等电子零件行业或半导体加工行业。

通过分析XRF的检测原理和设备特点,使用便携式XRF对常见汽车金属镀层Zr钝化膜厚度进行测试的结果表明,XRF对汽车金属镀层厚度检测具有良好的准确性和稳定性.结合当前汽车企业现状,使用便携式XRF作为镀层测厚抽检或全检的适用性,结果表明XRF镀层测厚具有低成本,高效率等优点,可以有效地应用于汽车企业的镀层分析,使镀层质量得到保证

EDX8000B镀层厚度测试仪特点

1. 标配FP无标样分析软件，操作性简便。

2. 厚度测量极限:分辨率0.001um。

3. 可测试项目:单层膜厚、双层膜厚、三层膜厚、化学镍膜厚、 铅合金膜厚及组成、压铸锌上镀铜、 二层同时测定、元素光谱分析。

4. 微聚焦X线管，50KV管电压

5. 采用数字多道分析器DPP技术，可快速处理能谱分析，可执行测定物之能谱分析表示，操作简单。

6. 滤光片:采用Co、Ni金属及数字式滤波器，可单一或同时使用。

7. 准直器：采用7种孔径一体式之Collimator(可设定任意切换方式)。

我们的核心技术包括

自动基材修正测量功能：基材修正，已知样品修正

综合应用范围广阔：镀层分析   定性分析   定量分析   镀液分析

镀层分析：可分析三层厚度,FP分析软件,真正做到无厚度标准片亦能进行准确测量(需要配合纯材料),为您节省购买标准片的成本。*超越其他品牌的FP软件。

镀液分析：可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液。

定性定量分析：光谱表示，光谱比较，可定性分析30多种金属元素；并可合金成份分析，可定量分析成分含量。

光谱对比功能：可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度。

统计功能：x光谱管理图，自动算平均厚度功能，能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质。