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XRF分析测厚仪在金属薄膜镀层厚度和成分分析的应用

更新时间:2022-10-11      点击次数:678

X射线测厚仪EDX8000B---金属薄膜镀层厚度和成分分析


EDX8000B镀层测厚仪应用于金属电镀镀层分析领域

技术指标

多镀层分析,1~034层;

测试精度:0.001 μm;

元素分析范围从铝(Al)到铀(U);

测量时间:10~30秒;

SDD探测器,能量分辨率为125±5eV;

探测器Be窗0.5mil(12.7μm);

微焦X射线管50kV/1mA,铑靶;

836个准直器及多个滤光片自动切换;

高清CCD摄像头(500万像素),准确监控位置;

多变量非线性去卷积曲线拟合;

高性能FP无标样分析软件;

测厚仪,专业表面处理检测解决方案:EDX8000BX射线测厚仪,专用于检测各种异形件,特别是五金类模具、卫浴产品、线路板以及高精密电子元器件表面处理的成分和厚度分析。


xrf光谱图


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