XRF分析测厚仪在金属薄膜镀层厚度和成分分析的应用

X射线测厚仪EDX8000B---金属薄膜镀层厚度和成分分析

EDX8000B镀层测厚仪应用于金属电镀镀层分析领域

技术指标

多镀层分析，1～034层；

测试精度：0.001 μm；

元素分析范围从铝(Al)到铀(U)；

测量时间：10~30秒；

SDD探测器，能量分辨率为125±5eV；

探测器Be窗0.5mil（12.7μm）；

微焦X射线管50kV/1mA，铑靶；

836个准直器及多个滤光片自动切换；

高清CCD摄像头（500万像素），准确监控位置；

多变量非线性去卷积曲线拟合；

高性能FP无标样分析软件；

测厚仪，专业表面处理检测解决方案：EDX8000BX射线测厚仪，专用于检测各种异形件，特别是五金类模具、卫浴产品、线路板以及高精密电子元器件表面处理的成分和厚度分析。