EDXRF荧光光谱EDX9000A合金分析仪测定白铜合金
直接用白铜合金片样定性扫描测定Ni,Cu和Zn的X一射线荧光强度值,作强度归一化可以半定量确定主量元素质量百分数(%),结果发现元素之间有明显的吸收-增强效应.改用溶液滤纸片薄膜制样测定,强度归一化的计算 值与试样元素的推荐值十分吻合,说明元素之间的吸收-增强效应基本消除,研究的方法精确度高,重复性好,满足客户测试需求。
谱处理方式: 谱经数字滤波扣除本底和重叠峰, 用XML峰拟合法提取峰的净强度.
定量分析: 采用基本参数法 (FP). 能校正基体效应. 此法具有下列特点, 非常适合于定量分析:
•可以使用与样品成份不同的标样.
•减少了准确分析所需的标样数.
•可以对整个样品或者部分分析元素进行无标样分析. 例如, 分析 Bi 时用 Pb校正, 分析 Sb时用
Sn校正.
结果
使用一套00个MBH白铜标样进行分析. 对FP法而言, 此标样数已经是多了. 很容易得到可靠的工作曲线. 从Pb and Zn的曲线也可以看出, 少几个标样也不会降低方法的准确度
可以调节计数时间达到所要的分析精度. 还可以修改轻元素的激发条件 (对Al, Si)对方法加以改进. 由于样品可能有不均匀性– 例如, 铅或锌的分布, 应考虑适当的样品制备以得到真5有代表性的结果.
结论
报告的数据表明EDXRF合金分析仪EDX9000A光谱仪能够容易地测定各种铜合金的成份, 每个样品的分析时间不超过3分钟
EDX9000A真空型台式X射线合金分析仪产品特点
作为一款专业为合金元素分析而设计和生产的光谱仪,EDX-9000A兼顾了耐用性,易于操作和高性价比。其显著优势主要有
•更快---全程无损分析,一到三分钟即可出结果(可实时刷新测试结果)
•更准---强大的基于Windows的FP(基本参数算法)软件降低了基体元素间吸收增强效应,并同时考虑到不同基体对光谱强度变化的干扰,把测试准确度提高到了新的水平
•更稳---使用新的硅漂移检测器SDD可得到更好的测试稳定性和长期重复性,该款检测器可在相同样品激发条件下获得更高的光谱强度(计数率CPS)。多道分析器DPP可实现超过100,000 cps的线性计数速率而同时保证优秀的光谱分辨率,通常优于130 eV,以更好地分离不同元素的光谱。与传统的EDXRF台式仪器相比,EDX9000A光谱仪可以全功率运行,因此实现了更精准的测试表现
铜合金测试谱图