X荧光光谱仪的各组成部分及应用领域介绍

　　X荧光光谱仪是一种利用物质分子内部电子激发跃迁所产生的荧光来研究分子结构的仪器，是通过将样品受到X射线激发后荧光信号收集，进而分析和确定样品中元素的类型、浓度以及化学状态。因此，具有高分辨率、高灵敏度、选择性和定量分析的优点。

 

　　X荧光光谱仪的主要组成部分包括样品台、X射线源、荧光计和电子学系统。样品台用于放置样品，主要有固定和可移动两种形式。X射线源一般采用射线管，它可以发射出高能X射线，激发样品产生荧光。荧光计用于检测和放大荧光信号，将荧光转换成电信号，通过放大、滤波和调制等操作，输出信号进行分析和处理。电子学系统包括放大器、高压稳定器、模数转换器、计算机等，用于控制和处理荧光信号，并生成荧光光谱图与分析结果。

 

　　X荧光光谱仪的应用十分广泛，主要应用于材料分析、地质矿物、元素分析等领域。例如，在材料分析领域，可以用于测定金属和非金属材料中的元素含量和质量；在地质矿物学中，可以用于矿物的识别和矿石中金属元素的含量测定；在环境监测中，可以用于检测水、土壤和空气等样品中有毒或有害物质的浓度等等。

 

　　近年来，随着计算机技术的广泛应用和X射线荧光分析技术的不断完善，以及对样品形状、大小、不同元素的相互作用等诸多物理参数(如质量吸收系数、光谱分布、激发因子等)的积累和多种数学校正模式的综合利用，进行样品分析时，并不要求测试每个样品时必须配置相应的标样。现代的分析软件包能自动进行汇编分析程序，操作者只要从仪器显示的元素周期中输入所要分析的元素，分析程序就会自动设定分析元素所需的测量条件和参数(如X射线管管流和管压、使用晶体和准直器等)。当然，操作者认为有必要，也可修改汇编参数。