X荧光测硫仪测量时要注意样品台板的位置

X射线荧光光谱仪（X-ray Fluorescence Spectrometer，简称：XRF光谱仪），是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。其原理是用X光激发源照射待分析的油样，样品中硫元素的内层电子被击出后，造成核外电子的跃迁，在被激发的电子返回基态的时候，会放射出硫元素的特征 X 光。检测器(Detector)接受这些硫元素的特征X光信号，仪器软件系统将其转为对应的测试强度。用标准物质样品建立特征X射线强度与硫含量之间的关系，也就是标定曲线。在建立了硫元素不同含量范围的标定曲线后，再去测试未知样品，便可快速分析石油及其他液体中的硫含量。