材料成分分析光谱仪立式XRF光谱EDX8800M

EDX8800M MAX能量色散荧光光谱仪-矿产分析专家

作为一款高性能的台式高分辨率X射线荧光（EDXRF）元素分析仪，新款EDX8800M MAX配置了*的基于Windows基本参数算法的FP（Fundamental parameter）软件，同时配备了高性能硬件，来满足客户对于复杂矿石样品的元素分析需求。无论客户的样品是是固体，合金，粉末，液体或者浆液，EDX8800M MAX都可以轻松实现从钠（Na）到铀（U）元素的无损定性和定量分析。更快的分析速度，更精确的测试结果，更稳定的仪器性能， 使得EDX8800M MAX成为了客户进行元素分析的工具之一。

ESI英飞思EDX8800M MAX光谱仪主要应用于在第三方实验室及各种需要进行高精度材料成分分析的场所。作为一款全新研发的光谱仪，EDX8800M MAX具有出色的灵活性，分析性能和稳定性。

EDX8800M MAX专注于对各种材料的主量，微量和痕量元素或化合物进行定性和定量分析，其中包括：

•铁矿• 铜矿• 铝土矿•贵金属矿产•稀土矿•原料•磷酸盐•煤炭•铅锌矿•锰矿•镍矿•石灰石•粘土•石膏•玻璃•土壤•水泥•耐火材料及其他等

EDX8800M MAX操作简单，分析性能出色，同时还可拓展到以下应用

>塑胶及有机物：塑料材料PE，PVC，添加剂等元素分析

>合金成分分析，牌号鉴定，贵金属测定，三元催化分析

>石油化工：燃料，润滑油监测，添加剂，磨损金属等中的硫元素分析

>环境：废水，空气污染，土壤和地面，排放控制等

>涂层厚度和薄膜：分析多层涂层，钢涂层，杂质等

>刑侦及：证据分析，材料匹配，爆炸物等

>食品，化妆品和药品：添加剂控制，原材料，有害金属，包装材料等

产品特点

作为一款专业为材料成分分析而设计和生产的光谱仪，EDX-8800M MAX兼顾了耐用性，易于操作和高性价比。其显著优势主要有：

•无需或者很少的样品制备，全程无损分析，一到三分钟即可出结果

•高功率光管和电制冷的FSDD硅漂移检测器不仅具有出色的短期重复性和长期重现性，而且具有出色的元素峰分辨率

•能同时进行元素和氧化物成分分析

•多重仪器硬件保护系统，并可通过软件进行全程实时监控, 让仪器工作更稳定、更安全

•特别设计的光路和真空系统大大提高了轻元素(Na, Mg, Al, Si, P）的测试灵敏度和准确性，同时可选配氦气充气系统

•友好的用户界面，可定制的分析报告，可一键打印测试报告，包括分析结果，样品信息，光谱信息和样品图像

•八种光路准直系统，根据不同样品大小自动切换，亦可测试样品不同位置再求平均值，降低样品不均匀性造成的误差

•高清内置摄像头，清晰地显示仪器所检测的样品部位

矿产元素检测专家EDX8800M MAX

>仪器参数

仪器配置

功能强大而界面友好的测试软件 

界面清晰易用。选择方法并输入样品识别信息后即可开始测量

软件内核-软件核心算法包括FP基本参数法，Sherman方程EC经验系数法，阿尔法α理论参数法，可以实现元素间增强吸收效应的校正

EDX8800M MAX已在工厂预安装了软件并进行了数据标定，客户运行软件即可立刻开始测试。无需每天重复标定。强大的软件功能还提供了

>一键初始化仪器，基体自动匹配

>自动定性，半定量和定量分析，不同样品测试谱图可实时对比

>光谱处理和校正，去除双倍峰和逃逸峰干扰，降低元素吸收增强效应影响

>光谱背景扣除，有效提高微量元素检测精度

>可实时刷新测量结果

>简单的流程栏向导可帮助用户创建新的自定义标定曲线

>可定制化测试报告，一键打印

铝土矿样品10次测试稳定性报告