青铜分析光谱仪

EDX-9000A XRF Spectrometer

能量色散X荧光光谱仪

合金检测专家

Simply the Best

>一台无需氩气和氦气消耗的高性能合金元素分析光谱仪XRF Analyzer

>媲美直读光谱仪的检测性能，无损分析（无需破坏样品）

>真空测试环境提供最佳轻元素检测效果（Na,Mg,Al,Si,P）

>高分辨SDD检测器一次测试可覆盖多达40种元素

>无需每天重复标定，快速分析，简单易用

>多组合滤光片系统，有效提高微量元素检出限

>坚固耐用，适用于于各种复杂而严苛的现场工作环境

>性价比高

EDX9000A能量色散荧光光谱仪-合金元素牌号分析专家

合金分析是鉴定样品化学成分的过程。使用X射线荧光（XRF）光谱仪，不仅能快速确定合金牌号PMI（Positive material identification），而且能准确得到整个合金材料的元素组成。EDX9000A已广泛用于各种需要合金成分分析的行业，从航空航天测试，原材料分析，质量控制，冶炼，金属加工，焊接，到废料回收和快速分类筛检等领域。

作为一款高性能的台式能量色散X射线荧光光谱仪，新款EDX9000A配置了*基于Windows基本参数算法的FP（Fundamental parameter）软件。FP软件是合金分析的条件之一，FP算法能大幅降低合金样品中各金属元素间的吸收增强效应，从而来满足客户对于各类复杂合金样品的元素分析需求。

EDX9000A结合了最新的样品激发和信号检测技术，使得它的分析性能可以与实验室分析结果相媲美。通过配备不同滤光片和光路准直器，高功率X射线管，以及美国Amptek的SDD硅漂移检测器，EDX9000A实现了良好的硬件组合。

选择金属合金分析仪时，客户通常会重点关注测试准确性，分析速度和设备耐用性，EDX9000A能很好体现上述三点指标。同时，该光谱仪能同时对多种不同类型的合金进行快速定性定量分析，包括：

镁合金 铝合金 钛合金 高合金钢 中低合金钢 工具钢 贵金属

钴合金 镍合金 铜合金 锌合金 贵重合金 黄铜 青铜 焊锡 等

EDX9000A操作简单，分析性能出色，还可拓展到以下应用

>涂层厚度和薄膜：分析多层涂层，钢涂层，杂质等

>电镀液元素分析

>催化剂贵金属元素分析

产品特点

作为一款专业为合金元素分析而设计和生产的光谱仪，EDX-9000A兼顾了耐用性，易于操作和高性价比。其显著优势主要有

•更快---全程无损分析，一到三分钟即可出结果（可实时刷新测试结果）

•更准---强大的基于Windows的FP（基本参数算法）软件降低了基体元素间吸收增强效应，并同时考虑到不同基体对光谱强度变化的干扰，把测试准确度提高到了新的水平

•更稳---使用最新的硅漂移检测器SDD可得到更好的测试稳定性和长期重复性，该款检测器可在相同样品激发条件下获得更高的光谱强度（计数率CPS）。多道分析器DPP可实现超过100,000 cps的线性计数速率而同时保证优秀的光谱分辨率，通常优于130 eV，以更好地分离不同元素的光谱。与传统的EDXRF台式仪器相比，EDX9000A光谱仪可以全功率运行，因此实现了更精准的测试表现

•无需消耗昂贵的氩气或者氦气，极大的降低了仪器的使用和维护成本

•无需或者很少的样品制备，通常简单的抛光样品表面后即可上机测试

•不需要每天标定仪器，开机即可检测，大大提高生产效率，并降低了对标准样品的依赖

•多重仪器硬件保护系统，并可通过软件进行全程实时监控, 让仪器工作更稳定、更安全

•特别设计的光路和真空系统提高了轻元素的测试灵敏度3-5倍(Na, Mg, Al, Si, P)

•友好的用户界面，可定制的分析报告，可一键打印测试报告，包括分析结果，样品信息，光谱信息和样品图像

•八种光路准直系统，根据不同样品大小自动切换，亦可测试样品不同位置再求平均值，降低样品不均匀性造成的误差

•高清内置摄像头，清晰地显示仪器所检测的样品部位

合金元素检测专家EDX9000A

>仪器参数

仪器配置

功能强大而界面友好的测试软件

界面清晰易用。一键测试，简单易用，无需手动选择工作曲线，软件自动匹配样品基体，即使非专业技术人员也能快速掌握仪器使用

基本参数FP和经验系数法EC的结合不仅可以分析高纯合金，也可以对基体复杂的多杂质样品进行定性定量分析。FP参数算法的应用，也使得仪器对标准样品的依赖度大大降低。

>一键初始化仪器，基体自动匹配

>自动定性，半定量和定量分析，不同样品测试谱图可实时对比

>光谱处理和校正，去除双倍峰和逃逸峰干扰，降低元素吸收增强效应影响

>光谱背景扣除，有效提高微量元素检测精度

>可实时刷新测量结果

>简单的流程栏向导可帮助用户创建新的自定义标定曲线

>可定制化测试报告，一键打印

黄铜样品10次测试稳定性报告