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正确处理真空型矿产元素分析仪故障是确保正常运行的关键
正确处理真空型矿产元素分析仪故障是确保正常运行的关键

2024-05-27

真空型矿产元素分析仪具有超高的灵敏度和重现性,能够分析从硫到铀的广泛元素范围,并覆盖1ppm至99.99%的广泛含量。其操作简便,界面友好,适用于各种矿产资源的快速分析和评估,为地质勘探、矿产开发等领域提供强有力的技术支持。真空型矿产元素分析仪在使用过程中可能会出现故障,了解并正...
  • 2022

    11-18
    便携式X射线能量色散荧光光谱仪测定钨矿,钼矿,锡矿 ‍‍便携式X射线荧光光谱仪Compass200测定钨矿,钼矿,锡矿钨,钼,锡矿产资源是我国重要的矿产资源,其矿产中常常伴生铜,铅,锌,铋等重金属元素,成矿元素钨,钼,锡经典分析方法多为单元素分析,且步骤繁琐,流程长,耗费了大量的人力,物力,财力.我司开发的Compass200便携式测矿仪是为适应当前国家矿产勘查工作的需要,缩短分析周期,提高效率,建立钨,钼,锡矿成矿元素的X射线荧光光谱分析方法.以国家标准物质以及混合所得的实验室内部控制样做工作曲线,建立了粉末压片-X射线荧光...
  • 2022

    11-18
    什么是XRF能量色散X射线荧光光谱仪的基体和干扰效应? XRF能量色散X射线荧光光谱仪的基体和干扰效应a)激发辐射的散射过程将影响样品中元素的特征辐射强度,这是由于散射过程将影响光谱的背景。此外,还存在两个主要的效应:b)样品中激发辐射被吸收和由此产生的或由其它元素(基体)发射的荧光辐射。c)样品中其它元素的次级激发(增强)。—塑料材料:在塑料样品中基体将影响分析物的特征X射线强度,主要来自:—初级辐射的散射(主要是不连续的),它对背景光谱有很大的贡献—荧光辐射中的吸收,这主要是由PVC中的Cl,添加剂元素如Ca,Ti,Zn,Sn...
  • 2022

    11-17
    ‍XRF能量色散荧光光谱仪矿石矿产土壤分析仪样品前处理制备方法介绍‍‍ ‍XRF荧光光谱仪矿石矿产土壤分析仪EDX9000B样品前处理制备方法介绍‍‍X射线萤光光谱仪XRFSpectrometerX射线荧光光谱仪,分为波长色散型和能量色散型两类,前者在分辨率和稳定性等方面优于后者,使用广泛;后者结构简单,休积小,便于携带,适用于野外地质和生产现场分析。波长色散型又分为多道式和顺序式两种,多道式一般有28-33个波道,可同时进行28-33个元素的分析,分析速度快,适合于固定元素或成批试样的生产控制、地质勘探等方面的分析;而顺序式仪器具有较大的灵活性...
  • 2022

    11-17
    XRF能量色散RoHS分析仪应用介绍 RoHS分析仪EDX8000B能量色散XRF‍从技术角度讲,完整的RoHS的解决方案应该是XRF(X射线荧光光谱仪)、ICP(电感耦合等离子发射光谱)再加上GC-MS(气相色谱和质谱连用)和紫外分光光度计等。但在实际应用中,X射线光谱现场分析方法的样品制备简单,能非破坏性地快速进行多元素分析,可以迅速筛查多种类样品基质如液体、固体、泥浆、粉末、糊状物、薄膜、空气过滤物以及其他很多基质样品中的未知成分。对于最新一代X射线荧光ROHS分析仪EDX8000B而言,其配备了SDD检测...
  • 2022

    11-17
    便携式矿石分析仪真空型矿石成分分析光谱仪的应用介绍 便携式矿石分析仪Compass-300真空型矿石成分分析光谱仪‍X射线光谱现场分析技术是采用现场X射线光谱仪在采样现场对待测目标体中元素进行快速地定性和定量分析技术,又称为现场X射线荧光矿石分析仪。根据现场分析的应用场景与采样方法,X射线光谱现场分析可分为X射线光谱现场原位分析和X射线光谱现场取样分析。现场原位分析是指将X射线光谱分析仪的探测窗直接置于岩(矿)石露头或土壤或其他待测物料的表面,在现场原生条件下获取待测目标体中元素种类和元素含量的分析方法;现场取样分析是指对待测...
  • 2022

    11-17
    XRF矿石分析仪测试萤石中 CaF2、SiO2、Fe2O3和 S成分‍ EDX9000Bplus矿石分析仪测试萤石中CaF2、SiO2、Fe2O3和S成分‍萤石(Fluorite或Fluorspar或Fluor),又称氟石、砩石,是一种矿物,其主要成分是氟化钙(CaF2),含杂质较多。其中的钙常被钇和铈等稀土元素替代,此外还含有少量的Fe2O3、SiO2和微量的Cl、O3和He等。自然界中的萤石常显鲜艳的颜色,硬度比小刀低[1]。萤石可以用于制备氟化氢:CaF2+H2SO4→CaSO4+2HF[2];它的色散极低,对红外线、紫外线的透过性能高,适...
  • 2022

    11-17
    XRF镀层测厚膜厚仪应用介绍 RF镀层测厚仪EDX-8000B涂层膜厚仪使用XRF进行涂层测量的好处准确的厚度测量有助于制造商提供优质产品,同时控制成本。涂层的厚度应与完成工作所需的一样厚;制造涂层太厚的产品会增加制造成本。客户还通过确保他们收到的材料涂有正确的材料和正确的厚度来测量涂层,以对进料进行质量控制。使用快速、高效且无损的工具有助于在产品线和现场进行质量控制。一台EDX8000测厚仪可以在短短10秒内提供测试结果,并且可以通过单点校准镜头来完善结果,只需30秒即可完成。EDX8000膜厚仪也不会...
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