膜厚仪X射线镀层测厚仪

膜厚仪EDX-8000T 型XRF镀层测厚仪/电镀液分析仪

Simply The Best

>垂直光路设计，专为镀层厚度分析而设计

>高分辨率硅针检测器 (Si-pin) ，适合于多元素镀层的高灵敏度分析，比起传统的封气正比计数器，Si-pin探测器具有更佳分辨率、更低的背景噪声（最高 S/N 比）长期稳定性以及更长的使用寿命

>工业级高清样品观测系统，精确的点位测量功能有助于提高测量精度

>易于使用，新型用户界面专为非XRF专家用户设计。直观而整洁，只需

点击鼠标即可进行正确的分析

背景介绍

人们在同腐蚀作斗争中，采取了许多行之有效的措施，电镀就是其中的重要手段之一，电镀能提高金属零件在使用环境中的抗蚀性能；装饰零件的外表，使其光亮美观；提高零件的工作性能，如硬度，耐磨，导电性，电磁性、耐热性，钎焊性及其他特殊性能。英飞思开发的EDX8000T 镀层测厚仪是专门针对于镀层材料成分分析和镀层厚度测定。其主要优点是

>测试速度快：检测时间快，数秒内可完成检测，可在短时间内进行大量样品测试

>测试再现性佳：不会因不同人员测试同一样品产生手法差异分析结果异同，相较湿式化学分析较受前处理因素

>同时分析多元素：一次检测电镀液内的所有金属成分，无元素检测限制。

>非破坏性检测：样品内若有贵重成分，检测完成后均可回收

>无复杂样品前处理：不需专业实验室与操作人员及复杂的前处理

>检测浓度弹性：标准液可根据被测溶液浓度灵活调整，无固定浓度要求

膜厚仪EDX8000T 应用场景

>测量的对象包括镀层、敷层、贴层、涂层、化学生成膜等

>可测量离子镀、电镀、蒸镀、等各种金属镀层的厚度

>镀铬，例如带有装饰性镀铬饰面的塑料制品

>钢上锌等防腐涂层

>贵金属成分分析，贵金属镀层，如金基上的铑材料分析

>分析硬质材料涂层，例如 CrN、TiN 或 TiCN

>可拓展增加RoHS有害元素分析功能，电镀液离子浓度分析

膜厚仪EDX8000T产品特点

>超大样品腔

>一键测试，一键打印报告

>与其他软件的无缝集成使其能够轻松导出数据，兼容LIMS数据库

>经久耐用，在充满考验的生产或实验室环境中使用寿命长

膜厚仪EDX8000T 可分析的常见镀层材料

可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。

单涂镀层应用：如可检测铁镀镍、铜镀镍、铁镀铬、铜镀锡、铜镀金、铜镀银等单镀层的厚度和元素成分

多涂镀层应用：如Ni/Cu/Fe铁镀铜镀镍，Au/Ni/Cu铜镀镍镀金，Sn/Ni/Cu铜镀镍镀锡等

合金镀层应用：如ZnNi/Fe铁镀镍锌合金, ZnAl/Ni/Cu铜镀镍镀铝锌合金等

技术参数